超超声波显微镜 (SAT)C-SAM,材料无损检测：声波显微镜 (SAT)是Scanning Acoustic Tomography 的简称，又称为C-SAM (C-mode Scanning Acoustic Microscope)。此检测为应用超声波与不同密度材料的反射速率及能量不同的特性来进行分析。

广电计量提供半导体材料微结构分析与评价服务,提供半导体材料元素成分分析,结构分析,微观形貌分析测试服务，CNAS资质认可,帮助客户全面了解半导体材料理化特性.

双束扫描电子显微镜（DB-FIB）是将聚焦离子束和扫描电子束集成在一台显微镜上，再加装气体注入系统（GIS）和纳米机械手等配件，从而实现刻蚀、材料沉积、微纳加工等许多功能的仪器。广电计量能提供一站式双束扫描电子显微镜检测,材料微观分析服务。

电子元器件失效分析经常用到的检查分析方法简单可以归类为无损分析、有损分析。有损分析就是对器件进行各种微观解剖分析，其首要要求就是在避免人为损伤的前提下，展现内部缺陷形貌。离子研磨（CP）测试是切片制样技术常用到的先进辅助技术。广电计量提供离子研磨测试,材料CP检测服务。

材料及其制品都是一在一定温度环境下使用的，在使用过程中，将对不同的温度做出反应，表现出不同的热物理性能，即为材料的热血性能。材料的热学性能主要包括热容、热膨胀、热传导、热稳定性等。广电计量可针对性研究材料样品性质与温度间关系，提供材料⼀致性评价及热力学分析服务。

广电计量腐蚀机理与疲劳测试,元件材料检测为轨道交通、电厂、钢铁设备生产厂、经销商或代理商提供交流阻抗，极化曲线，电化学噪⾳，疲劳试验。

金属材料的失效形式及失效原因密切相关，失效形式是材料失效过程的表观特征，可以通过适当的方式进行观察。而失效原因是导致构件失效的物理化学机制，需要通过失效过程调研研究及对失效件的宏观、微观分析来诊断和论证。广电计量金属与高分子材料失效分析可以针对客户的产品的类型，生产工艺和失效现象提供定制化服务。