您好!欢迎访问广电计量检测集团股份有限公司网站!
全国服务咨询热线:

18218862409

当前位置:首页 > 产品中心 > 元器件筛选及失效分析 > 材料领域 > 半导体材料微结构分析与评价

半导体材料微结构分析与评价

简要描述:广电计量提供半导体材料微结构分析与评价服务,提供半导体材料元素成分分析,结构分析,微观形貌分析测试服务,CNAS资质认可,帮助客户全面了解半导体材料理化特性.

  • 厂商性质:工程商
  • 更新时间:2024-03-13
  • 访问次数:368

详细介绍

品牌广电计量服务范围全国
服务周期常规5-7个工作日服务资质CMA/CNAS
服务费用视具体项目而定

服务范围

广电计量提供半导体材料微结构分析与评价服务范围:半导体材料、有机小分子材料、高分子材料、有机/无机杂化材料、无机非金属材料。

检测项目

(1)半导体材料元素成分分析:EDS 元素分析,X 射线光电子能谱(XPS)元素分析;

(2)半导体材料分子结构分析:FT-IR 红外光谱分析,X 射线衍射(XRD)光谱分析,核磁共振波普分析(H1NMR、C13NMR);

(3)半导体材料微观形貌分析:双束聚焦离子束(DB FIB)切片分析,场发射扫描电镜(FESEM)微观形貌量测与观察,原子力显微镜(AFM)表面形貌观察。

相关资质

CNAS

服务背景

随着大规模集成电路的不断发展,芯片制程工艺日趋复杂,半导体材料微结构及成分异常阻碍着芯片良率的提高,为半导体及集成电路新工艺的实施带来了极大的挑战。广电计量提供半导体材料微结构分析与评价服务。

我们的优势

(1)芯片晶圆级剖面制备及电子学分析,基于聚焦离子束技术(DB-FIB),对芯片局部区域进行精确切割,并实时进行电子学成像,可得到芯片剖面结构,成分等重要工艺信息;

(2)半导体制造相关材料理化特性分析,包括有机高分子材料、小分子材料、无机非⾦属材料的成分分析、分子结构分析等;

(3)半导体物料污染物分析方案的制定与实施。可帮助客户全面了解污染物的理化特性,包括:化学成分组成分析、成分含量分析、分子结构分析等物理与化学特性分析。

应的衍射斑点,其晶面间距有所不同;也就是说虽然都是fcc结构,但是其晶格参数(fcc晶胞的a值)不同,表明其是不同的工艺所得。尤其是区域2(绿色框)和区域3(黄色框)的晶格参数差异,表明该裂纹是在不同工艺的Cu的界面产生。


产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
扫一扫,关注微信
地址:广州市天河区黄埔大道西平云路163号 传真:020-38698685
©2024 广电计量检测集团股份有限公司 版权所有 All Rights Reserved.  备案号:粤ICP备11014689号