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AEC-Q100认证试验,AECQ评估认证机构

简要描述:广电计量AEC-Q100认证试验,AECQ评估认证机构,拥有失效分析实验室AEC-Q技术团队,执行过大量的AEC-Q测试案例,积累了丰富的认证试验经验,可为您提供更专业、更可靠的AEC-Q认证试验服务。

  • 厂商性质:工程商
  • 更新时间:2024-03-13
  • 访问次数:620

详细介绍

服务区域全国服务资质CMA/CNAS
服务周期3-4个月服务费用视具体项目而定

服务背景

IC作为重要的车载元器件部件,是AEC委员会持续关注的重点领域。AEC-Q100对IC的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性、加速寿命模拟可靠性、封装可靠性、晶圆制程可靠性、电学参数验证、缺陷筛查、包装完整性试验,且需要根据器件所能承受的温度等级选择测试条件。需要注意的是,第三方难以独立完成AEC-Q100的验证,需要晶圆供应商、封测厂配合完成,这更加考验对认证试验的整体把控能力。广电计量将根据客户的要求,依据标准对客户的IC进行评估,出具合理的认证方案,从而助力IC的可靠性认证。

广电计量AEC-Q100认证试验,AECQ评估认证机构拥有失效分析实验室AEC-Q技术团队,执行过大量的AEC-Q测试案例,积累了丰富的认证试验经验,可为您提供更专业、更可靠的AEC-Q认证试验服务。
产品范围
集成电路(IC)

测试周期

3-4个月,提供全面的认证计划、测试等服务。广电计量AEC-Q100认证试验,AECQ评估认证机构

测试项目

序号 测试项目 缩写 样品数/批 批数 测试方法
A组 加速环境应力试验
A1 Preconditioning PC 77 3 J-STD-020、
JESD22-A113
A2 Temperature-Humidity-Bias THB 77 3 JESD22-A101
Biased HAST HAST JESD22-A110
A3 Autoclave AC 77 3 JESD22-A102
Unbiased HAST UHST JESD22-A118
Temperature-Humidity (without Bias) TH JESD22-A101
A4 Temperature Cycling TC 77 3 JESD22-A104、Appendix 3
A5 Power Temperature Cycling PTC 45 1 JESD22-A105
A6 High Temperature Storage Life HSTL 45 1 JESD22-A103
B组 加速寿命模拟试验
B1 High Temperature Operating Life HTOL 77 3 JESD22-A108
B2 Early Life Failure Rate ELFR 800 3 AEC-Q100-008
B3 NVM Endurance, Data Retention, and Operational Life EDR 77 3 AEC-Q100-005
C组 封装完整性测试
C1 Wire Bond Shear WBS 最少5个器件中的30根键合线 AEC-Q100-001、AEC-Q003
C2 Wire Bond Pull WBP MIL-STD883 method 2011、
AEC-Q003
C3 Solderability SD 15 1 JESD22-B102或 J-STD-002D
C4 Physical Dimensions PD 10 3 JESD22-B100、 JESD22-B108
AEC-Q003
C5 Solder Ball Shear SBS 至少10个器件的5个键合球 3 AEC-Q100-010、
AEC-Q003
C6 Lead Integrity LI 至少5个器件的10根引线 1 JESD22-B105
D组 晶圆制造可靠性测试
D1 Electromigration EM / / /
D2 Time Dependent Dielectric Breakdown TDDB / / /
D3 Hot Carrier Injection HCI / / /
D4 Negative Bias Temperature Instability NBTI / / /
D5 Stress Migration SM / / /
E组 电学验证测试
E1 Pre- and Post-Stress Function/Parameter TEST 所有要求做电学测试的应力试验的全部样品 供应商或用户规格
E2 Electrostatic Discharge Human Body Model HBM 参考测试规范 1 AEC-Q100-002
E3 Electrostatic Discharge Charged Device Model CDM 参考测试规范 1 AEC-Q100-011
E4 Latch-Up LU 6 1 AEC-Q100-004
E5 Electrical Distributions ED 30 3 AEC Q100-009
AEC Q003
E6 Fault Grading FG - - AEC-Q100-007
E7 Characterization CHAR - - AEC-Q003
E9 Electromagnetic Compatibility EMC 1 1 SAE J1752/3-辐射
E10 Short Circuit Characterization SC 10 3 AEC-Q100-012
E11 Soft Error Rate SER 3 1 JEDEC
无加速:JESD89-1
加速:JESD89-2或JESD89-3
E12 Lead (Pb) Free LF 参考测试规范 参考测试规范 AEC-Q005
F组 缺陷筛选测试
F1 Process Average Testing PAT / / AEC-Q001
F2 Statistical Bin/Yield Analysis SBA / / AEC-Q002
G组 密封封装完整性测试
G1 Mechanical Shock MS 15 1 JESD22-B104
G2 Variable Frequency Vibration VFV 15 1 JESD22-B103
G3 Constant Acceleration CA 15 1 MIL-STD883 Method 2001
G4 Gross/Fine Leak GFL 15 1 MIL-STD883 Method 1014
G5 Package Drop DROP 5 1 /
G6 Lid Torque LT 5 1 MIL-STD883 Method 2024
G7 Die Shear DS 5 1 MIL-STD883 Method 2019
G8 Internal Water Vapor IWV 5 1 MIL-STD883 Method 1018

 

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