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大规模集成电路失效分析,汽车电路测试

简要描述:广电计量聚焦大规模集成电路失效分析,汽车电路测试技术,拥有业界专家团队及先进的失效分析设备,可为客户提供完整的失效分析检测服务,帮助制造商快速准确地定位失效,找到失效根源。

  • 厂商性质:工程商
  • 更新时间:2024-03-13
  • 访问次数:313

详细介绍

品牌广电计量服务区域全国
服务周期常规5-7个工作日服务资质CMA/CNAS
服务费用视具体项目而定

服务范围

规模集成电路芯片

检测项目

试验类型试验项⽬
无损分析X-Ray、SAT、OM 外观检查
电特性/电性定位分析IV曲线量测、Photon Emission、OBIRCH、ATE测试与三温(常温/低温/高温)验证
破坏性分析塑料开封、去层、板级切片、芯片级切片、推拉⼒测试
微观显微分析DB FIB切片截⾯分析、FESEM检查、 EDS微区元素分析

相关资质

CNAS

服务背景

四化"要求更强的芯功能,同时,规级集成电路的集成度益提,也使规级半导体结构和制造艺也益复杂。这对可靠性提出了更的要求,也带来了更的难度,集成电路更容易失效,但失效定位与根源分析却成为一大难题大规模集成电路失效分析,汽车电路测试

我们的优势

广电计量聚焦大规模集成电路失效分析,汽车电路测试技术,拥有业界专家团队及先进的失效分析设备,可为客户提供完整的失效分析检测服务,帮助制造商快速准确地定位失效,找到失效根源。同时,我们可针对客的研发需求,提供不同应下的失效分析咨询、协助客户开展实验规划、以及分析测试服务,如配合客户开展NPI阶段验证,在量产阶段(MP)协助客完成批次性失效分析


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