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集成电路工程化量产测试,失效机理分析 环境监测与检测

简要描述:广电计量集成电路工程化量产测试,失效机理分析,拥有经验丰富的IC测试技术开发团队,可提供各类芯⽚的测试方案开发,测试硬件开发,测试程序开发与调试,小批量测试,应⽤验证.从⼯程化到量产的全流程专业定制化的⼀站式服务.

  • 厂商性质:工程商
  • 更新时间:2024-03-13
  • 访问次数:442

详细介绍

品牌广电计量服务区域全国
服务周期常规5-7个工作日服务资质CMA/CNAS
服务费用视具体项目而定

服务范围

广电计量集成电路工程化量产测试,失效机理分析服务范围:集成电路(微处理器、控制器、可编程逻辑器件、存储器系列、总线接⼝系列、射频器件、放大器、AD/DA,驱动芯片、监控芯片、电源类芯片等

检测标准

 GJB 597B-2012半导体集成电路通用规范

●GJB 2438A-2002混合集成电路通用规范

 GJB 548B-2005微电子器件试验方法和程序

 GJB 7400-2011合格制造厂认证用半导体集成电路通用规范

● 行业规范:MILIEEEJEDEC

● 客制标准:产品⼿册、详细规范、测试方案

检测项目

FT工程化测试方案开发与测试平台选型;
测试程序开发:V93000UltraflexJ750HDSTS系列、magnum
测试硬件设计:loadboardchangkitsocketPCB
⼯程化验证与特性参数分析
FT量产⼀次筛选
小批量量产
量产维护与良率提升
应用验证项目验收测试
板级应用测试

相关资质

CNAS

服务背景

集成电路测试卡位产业链关键节点,贯穿设计、制造、封装测试以及应的全过程。测试在保证芯片质量,产品交付、项目验收及推向应⽤具有重要作⽤。而芯片设计多样化和定制化,对测试人才和技术经验要求明显提升,如何实现快速⼯程化和量产将⾯临极⼤挑战。

我们的优势

广电计量集成电路工程化量产测试,失效机理分析服务拥有一支经验丰富的IC测试技术开发团队,可提供各类芯片的测试方案开发、测试硬件开发、测试程序开发与调试,小批量测试、应⽤验证。从⼯程化到量产的全流程专业定制化的⼀站式服务。


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