离子清洁度测试 专业元器件失效分析：离子清洁度通常是指线路板的离子清洁度，由于印刷线路板的各种材料在清洗工艺时造成离子残留，会影响电子产品的功能性和可靠性。最常见的离子污染导致的问题分别是表面腐蚀和结晶生长，最终引起了短路，过多的电流通过连接器，造成电子产品的最终损坏。广电计量能提供离子清洁度检测。

锡须现象检测 材料装备失效分析：锡须是从元器件焊接点的锡镀层表面生长出来的一种细长的锡单晶，锡须的存在可能导致电器短路、弧光放电，以及及光学器件损坏等危害。广电计量拥有完整的锡须检查试验设备，经验丰富的分析人才，能够高效准确的提供锡须检查测试服务。

超超声波显微镜 (SAT)C-SAM,材料无损检测：声波显微镜 (SAT)是Scanning Acoustic Tomography 的简称，又称为C-SAM (C-mode Scanning Acoustic Microscope)。此检测为应用超声波与不同密度材料的反射速率及能量不同的特性来进行分析。

广电计量可以提供一站式国产化替代验证服务解决方案专业服务，针对元器件用户具体的应用环境和条件等需求调研和分析，结合现实和潜在应用要求，进行验证方案和大纲制定，验证评价，验证报告和验证指南编制等全流程服务。

广电计量半导体功率器件质量提升,失效分析解决方案经过在功率半导体器件方面数年积累，拥有研究进展,研究设备，为客户提供半导体功率器件质量提升服务。

第三代半导体作为一种理想的半导体材料，在新一代信息技术、新基建等领域得到了愈发广泛的应用。对于国内企业而言，要获取市场信任，检测是证明第三代半导体质量与可靠性的可行手段，同时也是提高其质量可靠性的重要保障。广电计量特意推出第三代半导体可靠性验证与评价服务，助力企业产品高效发展。

广电计量提供半导体材料微结构分析与评价服务,提供半导体材料元素成分分析,结构分析,微观形貌分析测试服务，CNAS资质认可,帮助客户全面了解半导体材料理化特性.

广电计量车规电子元器件AEC-Q全系认证服务建成并具备了覆盖AEC-Q100、101、102、104、200全套认证测试能力，有利地支撑国产电子元器件的设计、制造、终端应用过程中的产品分析测试需求。