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光电子器件LED失效分析

简要描述:光电子器件LED失效分析:随着LED应用的飞速发展,其失效问题也随之表现的尤为突出,特别是LED随机性不点灯或性不点灯,以及烧灯等,是困扰产品可靠性寿命的关键问题。广电计量通过对LED内部的微观分析,确认其结构上的失效特征,可以改进设计、制造、工艺及应用上的潜在或已存在的失效风险,提高产品的可靠性及寿命。

  • 厂商性质:工程商
  • 更新时间:2024-03-14
  • 访问次数:315

详细介绍

品牌广电计量

服务范围

光电子器件LED失效分析:LED芯片、LED支架、LED封装胶、银浆、键合线、LED灯珠(COB、LAMP、TOP、CHIP)、LED灯具、灯具驱动电源。

检测标准

● GB/T15651-1995半导体器件分立器件和集成电路:光电子器件(国家标准)

● GB7000系列灯具国家标准(强制性)

● GB7000.5道路域街路照明灯具安全要求

● GB/T9468-1988道路照明灯具光度测试

● GB/T9468-2008灯具分布光度测测量的一般要求

● GB/T5700-2008《照明测量方法》标准

检测项目

(1)分析大类:成本分析、竞品分析、失效分析。

(2)常⻅检测项目:导热能力检测,光电参数检测,气密性检测、可疑污染元素检测,塑封料、镀银层、铜基板、键合线等材料质量检测。

(3)常⻅失效模式分析:硫化、掉电极、漏电、过电应力、键合异常、镀层异常、封装结合性变差、散热能力变差。

相关资质

CNAS

服务背景 

光电子器件LED失效分析国家在5G通信领域的LED正在取代传统节能灯、卤素灯大量应用于民用照明、城市亮化工程。市场规模的无限放大以及市场价格的不断降低,造成市场上LED灯珠质量参差不齐。降低生产原材料成本的同时如何不断提高产品质量是LED行业一直面临的问题。

我们的优势

通过对各种型号LED灯珠大量、长时间的AEC-Q环境老化试验,以及市面上各种LED产品质量异常根因分析案例,广电计量积累了LED领域全面的基础数据,以及LED上中下游全产业链常⻅问题的经验,可帮助企业根据失效机理,指导产品改进升级。


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