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功率器件失效根因分析,电子器件测试

简要描述:功率器件可靠性是器件厂商和应用方除性能参数外最为关注的,也是特性参数测试无法评估的,失效分析则是分析器件封装缺陷、提升器件封装水平和应用可靠性的基础。广电计量功率器件失效根因分析,电子器件测试拥有业界专家团队及先进的失效分析设备,专注功率器件失效根因分析,可为客⼾提供完整的失效根因分析服务。

  • 厂商性质:工程商
  • 更新时间:2024-03-13
  • 访问次数:638

详细介绍

品牌广电计量服务区域全国
服务资质CMA/CNAS服务周期常规5-7个工作日
服务费用视具体项目而定

服务范围

MOSFETIGBTDIODEBJT,第三代半导体器件等分⽴器件,以及上述元件构成的功率模块

检测标准

l  GJB548B-2005微电子器件试验⽅法和程序

l  GJB8897-2017J用电子元器件失效分析要求与⽅法

l  QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求

检测项目

试验类型试验项⽬
⽆损分析X 射线透视、声学扫描显微镜、⾦相显微镜
电特性/电性定位分析电参数测试、IV&CV 曲线量测、ESD、Photon Emission、OBIRCH、ATE 测试与三温(常温/低温/高温) 验证
破坏性分析开封、去层、切⽚、芯⽚级切片、推拉力测试
微观显微分析DB FIB切⽚截⾯分析、FESEM 检查、EDS微区元素分析、扫描电镜、透射电镜

相关资质

CNAS

服务背景

受益于国产替代趋势,国内功率器件厂商迎来了大的发展机会。在成长中厂商迫切希望减少或消除产品失效,并在设计、⼯艺和产品研发、量产、可靠性测试、封装等阶段进⾏改进,以迅速占领市场。广电计量提供功率器件失效根因分析,电子器件测试服务。

我们的优势

广电计量功率器件失效根因分析,电子器件测试拥有业界专家团队及先进的失效分析设备,专注功率器件失效根因分析,可为客⼾提供完整的失效根因分析服务,针对产品的研发设计、来料检验、加⼯组装、测试筛选、客⼾端使⽤等各个环节,为客⼾提供失效分析咨询、协助客⼾开展设计规划、以及分析测试服务。


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