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  • 2026

    3-26

    锡须失效如何避免?IPC标准下的检查方法

    锡须是从元器件焊接点锡镀层表面自发生长的细长锡单晶,可能导致线路短路或信号干扰,严重影响电子产品长期可靠性。随着无铅化进程推进,纯锡及高锡合金镀层广泛应用,锡须风险成为电子制造业必须正视的潜在隐患。电子元器件、PCBA部件、汽车电子、通信设...

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  • 2026

    3-25

    产品质量管控为什么离不开温湿度环境测试?

    在质量至上的商业浪潮中,产品质量管控是企业筑牢口碑、站稳市场的核心防线。从精密电子元件到日常食品药品,从工业设备到基础建筑材料,任何产品的质量稳定性,都与生产、存储、运输环节的温湿度环境深度绑定。温湿度环境测试,看似是质量管控中的细微环节,...

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  • 2026

    3-25

    面向数据中心应用的硅光芯片可靠性验证方法

    广电计量针对硅光芯片提供全流程的测试服务,覆盖Si、SiN、LiNbO3等材料体系,支持硅光芯片、MPD、Heater、MZI、光波导、激光器等核心单元的工艺验证与失效分析。在参数测试方面,可完成耦合损耗、调制效率、传输损耗、带宽、电阻、暗...

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  • 2026

    3-25

    如何利用X射线能谱进行微区元素分析?应用案例分享

    广电计量提供覆盖Si、SiN、LiNbO₃等材料体系的硅光芯片全流程测试服务,功能单元包含硅光芯片、MPD、Heater、MZI、光波导及激光器等。测试项目涵盖耦合损耗、调制效率、传输损耗、带宽、电阻、暗电流、响应度、眼图、模斑等参数测试,...

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  • 2026

    3-25

    静电放电(ESD)对电子产品的危害及防护设计

    从芯片到系统:ESD抗扰度测试与整改实例,展现了广电计量解决复杂ESD问题的全栈式服务能力。针对机载电子设备等专业应用,我们依据RTCADO-160标准,可执行从±2kV至±15kV严酷等级的接触放电与空气放电测...

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  • 2026

    3-25

    XPS/AES/SIMS三种表面分析技术的原理与选择

    在生产制造过程中,材料表面的微量污染物往往是导致涂层附着力下降、接触不良或外观不良的根源。材料表面污染分析:如何定位污染物来源?广电计量提供了一套系统的“溯源”方法。我们优选多种精密分析仪器,首先利用扫描电镜及能谱(SEM/EDS)观察污染...

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