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失效分析检测简要介绍

更新时间:2023-07-13  |  点击率:384

什么是失效分析?失效分析是一门发展中的新兴学科,近年开始从军工向普通企业普及。它一般根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量,技术开发、改进,产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。其方法分为有损分析,无损分析,物理分析,化学分析等。 


为什么要进行失效分析?失效分析检测目的:


  1、明确潜在失效机理、查找失效根本原因、确定失效薄弱环节,为改进产品设计,选材等提供依据。


  2、通过失效机理分析还可以预测可靠性,起到技术反馈作用。


  3、在提高产品质量、技术开发、产品改进、产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。


广电计量失效分析检测能能力


  广电计量集成电路测试与分析事业部是国内的半导体质量评价与可靠性提升方案技术服务提供方。广电计量投入300多台检测分析设备,形成以博士、专家为核心的人才队伍,打造8个专项实验室及1个功能安全认证中心,为装备制造、汽车、电力电子与新能源、5G通信、光电器件与传感器、轨道交通与材料、晶圆厂等领域企业提供专业的失效分析、晶圆级制造工艺分析、元器件筛选、可靠性测试、工艺质量评价、产品认证、寿命评估等服务,帮助企业提升电子产品质量与可靠性。


专项实验室及认证中心

重点能力

AEC-Q车规元器件
认证实验室

AEC-Q100/101/102/103/104/200全项目认证
光、电、热、机械全参数测试
片级试验验证与失效分析

IGBT及第三代
半导体实验室

功率器件逆向工程与案例分析
GBT及第三代半导体器件全参数测试
AQG324功率器件试验认证

晶圆级工艺及材料
分析实验室

4nm及以上芯片制程晶圆级制造工艺分析
半导体器件纳米级微结构及微区成分解析
芯片等半导体器件显微失效分析

集成电路测试

工程实验室

集成电路工程化测试开发
集成电路可靠性测试开发
集成电路小批量量产测试

集成电路筛选

与量产实验室

集成电路CP/FT/量产测试开发和导入
元器件一筛/二筛
集成电路国产化鉴别与结构分析

封装组装及DPA实验室

电子元器件破坏性物理分析
元器件质量管控及鉴定
板级制造工艺评价与改进

电子电气检测与验证实验室

电子电气功能、性能测试
板级工艺质量验证与故障定位
5G产品测试与可靠性验证

服役评估实验室

器件、零部件寿命评估
材料老化机理研究
国产化验证

功能安全认证中心

ISO26262功能安全ASFP培训
ISO26262功能安全流程(管理体系)技术服务
IS026262功能安全技术服务
ISO26262功能安全硬件、软件测试
IS026262功能安全认证审核


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